适配主流机型：G7、F7、V7、A1000、H1000、V1000 安川常用驱动光耦两大类：
普通驱动光耦：HCPL-3120（A3120）
智能驱动光耦：HCPL-316J（A316J）【带 DESAT 短路检测】
电路特征：+15V 开通，-7.5V~-8V 负压关断；负压失效极易诱发 IGBT 误导通、光耦损坏。
安全前提：断电，母线电容充分放电≥15 分钟；防静电，禁止带电测量驱动引脚。
重要逻辑：光耦损坏常伴随 IGBT 击穿；先测 IGBT，再测光耦，不要顺序颠倒。
一、先分清两种失效模式
硬故障：内部开路、输出短路、LED 烧毁（静态万用表可测出）
软故障：CTR 衰减、带载能力不足、高温失效（万用表静态测量正常，必须上电波形测试）
二、静态离线检测
1）输入端（发光二极管侧，1、2 脚）
正常：红笔接 1 脚、黑笔接 2 脚，正向压降 1.0～1.3V；反向无穷大。 异常：
正反都无穷大 → 内部 LED 开路；
正反接近 0Ω → LED 击穿短路。
⚠️注意：不要在板上直接判定！板上并联外围元件会干扰读数，精准判断最好断开光耦输入前级电阻或者拆下光耦测量。
2）输出功率侧（重点，区分 A3120 / A316J）
断电无光信号输入时： 输出引脚之间应当高阻、接近无穷大。 现象判定：
输出引脚持续导通、阻值很低 → 输出击穿短路；
有输入、上电无驱动输出，离线测量输出通路断开 → 输出内部开路；
3）A316J【智能光耦额外检测 DESAT 检测引脚】
DESAT 引脚内部有保护电路，静态不能对地短路； 如果 DESAT 引脚和 Vcc/VE 之间导通，说明光耦内部检测单元损坏，表现为上电持续报 OC、SC 故障。
三、在线带电静态测量
实操最优方案：只给驱动板供辅助低压电源，不加直流母线高压，不装 IGBT 模块！安川驱动标准供电：VCC=+15V，VE=-8V 左右。
1、待机状态（CPU 无 PWM 脉冲输出）
正常状态： 光耦输出 VO 引脚电位 ≈ VE（-8V 负压）
